Blink reflex (순목반사)

blink reflex는 "blinking"하다. 눈을 깜빡이다.라는 눈깜박임 검사입니다. 이 검사는 뇌신경 중에서 5번 뇌신경인 삼차신경(trigeminal nerve)과 7번 뇌신경인 안면신경(facial nerve)을 자극했을 때 신경이 이동하는 경로에 이상이 있는지 알아볼 수 있는 검사로 가장 흔히 볼 수 있는 안면마비(facial palsy)나 벨 마비(bell's palsy), 삼차신경통(trigeminal neuralgia)과 같은 질환을 진단할 수 있고 그 외에도 통증이나 감각저하, 떨림 등 얼굴에서 발생할 수 있는 질환들에 대해 진단하고 회복기의 신경상태 등을 평가하고자 할 때 검사합니다.

 

검사원리

 

blink reflex pathway

 

검사는 전기자극에 대해 나타나는 반사반응을 분석합니다. 자극이 전달되면 감각수용기로부터 구심성신경(afferent)에 의해 전달 신호가 중추신경의 의지와 상관없이 전환하여 원심성신경(efferent)에 전달되어 근육에서 반응이 나타나는 현상을 기록한 것으로 삼차신경의 V1 부위에 해당하는 supraorbital nerve(상안와 신경)를 자극하면 뇌간의 시냅스를 거쳐 안면신경을 통해 안면신경이 지배하는 안륜근(orbicularis oculi)에서 근수축반응이 일어나고 이 파형들을 기록한 것이 blink reflex입니다. 그래서 자극을 가한 동측(ipsilateral)에 먼저 나타나는 반응을 R1(early response) 나중에 나타나는 반응을 R2(late response)라고 합니다. 그리고 파형을 기록할 때 자극을 준 반대편 안륜근에서도 기록하게 되는데 이때 나타나는 반응을 cR2(contralateral response)라고 합니다. 즉 한 군데서 자극하고 얼굴의 양쪽에서 기록하게 되는 검사법입니다.

 

검사방법 및 주의사항

 

활성기록전극의 위치는 좌, 우측의 안륜근에 부착합니다. 환자가 똑바로 누워 눈을 떴을 때 눈동자의 중앙 바로 아래 위치한 안륜근에 부착합니다. 기준전극은 좌, 우측의 콧등(nasalis)에 붙입니다. 부착한 전극들의 위치가 좌우 대칭이 되도록 부착하면 됩니다. 접지전극은 이마 또는 턱에 부착합니다.

 

 

supraorbital nerve의 자극위치와 파형

 

자극은 안와상 절흔(supraorbital foramen)의 supraorbital nerve를 자극하는 것으로 환자의 눈썹 안쪽 아랫부분을 손으로 촉지 하면 안쪽으로 살짝 들어간 부분이 만져지는데 바로 이 부분을 자극하는 것입니다. 자극의 세기는 15~20mA정도로 자극하고 최대 25mA를 넘지 않게 하고 stimulation duration은 0.1ms로 설정합니다.

 

자극의 간격은 최소 2초 이상의 간격을 두고 자극하는데 2초 이상의 간격을 두는 이유는 습관화(habituation) 방지를 위해서 인데 습관화는 짧은 시간간격을 두고 자극을 여러 번 하게 되면 파형이 측정되지 않는 현상을 말합니다. 특히 blink reflex에서는 습관화가 심한 검사이기 때문에 짧은 시간에 검사를 마치는 스킬을 체득해야 합니다. 또한 검사 중에 환자가 졸려하지 않도록 검사실 내에 조명을 켜고 검사를 하고, 검사가 원활하게 되지 않는다면 중간중간에 눈을 깜빡이거나 말을 시켜 환자를 각성시키며 검사해야 합니다.

 

 

정상에서는 항상 R1과 R2가 먼저 측정되고 아주 근소한 차이로 반대편에서 cR2가 측정됩니다. 

 

Blink reflex
R1	12.2 ms
Ipsilateral R2	37.9 ms
Contralateral R2	39.2 ms
Diff: R1-1.2msec, R2-5msec

 

 

 

 

2) Infraorbital nerve

 

infraorbital nerve의 자극위치와 파형

3) mental nerve

mental nerve의 자극위치와 파형

 

삼차신경을 위치에 따라 구분할 때 V1, V2, V3로 구분할 수 있는데 자극의 위치에 따라서 V1은 supraorbital nerve, V2는 infraorbital nerve, V3는 mental nerve로 기록전극의 위치는 동일하고 자극의 위치만 바꿔서 검사할 수 있습니다. 검사는 편측에 4회 이상을 기록하여 재현성이 있게 기록된 파형을 분석합니다. V2, V3검사에서는 동측의 R1을 기록하지 않고 R2와 cR2의 잠복기를 측정합니다. 여러 자료들에서 진폭의 변동성이 큰 이유로 진폭은 측정하지 않고 잠복기로만 파형을 판독합니다.

 

 

검사 시 뇌신경이나 뇌줄기(brainstem)의 손상된 부위에 따라서 각기 다른 형태의 파형이 나타날 수 있습니다. 일반적으로는 supraorbital nerve를 자극하는 blink 검사가 많이 시행되지만 환자의 병력에 따라 증상이 있는 부위에서 선택적으로 V2, V3 lesion에 대한 검사도 시행할 수 있습니다.